STS8200 CROSSシリーズ

アナログ、デジタルおよびパワーディスクリート

小信号アナログ、デジタル・ハイブリッドデバイスおよびパワーディスクリートに向けた業界トップのスケーラブルな半導体テストプラットフォーム。

アナログおよびパワーディスクリート

メニュー式プログラミング、マルチステーション機能を備えた、ディスクリート及びパワーMOSFETに向けた最高コストパフォーマンスのテストシステム。

アナログおよびパワーモジュール

低出力から高出力までのMOSFETs、IGBTs、SiC、GaN、KGD、PIM、IPMモジュールに向けた好ましいディスクリートおよびパワー半導体テストシステム。

アナログディスクリートおよびウェハーテスト

ディスクリートMOSFETs、IGBTs、SiC、GaNに向けた最高並列テストシステムであり、ウエハー・テストシステムとハードドッキングできます。

アナログおよび電源ブリック

EVモビリティやソーラー産業のマルチブリッジやパワーブリックモジュールに対応する先頭高出力パワー半導体テストシステム。

アナログディスクリート

MOSFET、IGBT、SiC、GaN、KGD、PIM、IPMモジュール、およびウェハのテストが可能な、業界トップのパワー半導体テストシステム。