Analog and Power Test System
STS8200 CROSS Series
独立したAC/DCゾーンを備えたハードドッキング
テストヘッドに2つのソケットを付き、またはACとDCを組み合わせることで、テストハンドラの複雑さとタッチダウンを減らします。
アナログリソー統合
アナログおよびデジタル機能の柔軟性により、テスト方法やリソースの最適化を拡張します。
高性能波形キャプチャとデータ収集
dv/dt、di/dtおよび動力学計算用の高帯域幅デジタイザが内蔵され、14ビットの分解能で波形をキャプチャします。
特長
最大電圧および電流定格：
- ±2000V/1000A (2000Aオプション付きの静的DC)
- 100kHz-1MHz ZMU (±40V DCバイアス 最大±2000Vのオプション)
- 1nAの低リーク電流レンジ
- 精密18ビット電圧計による測定
- ICリソースのデジタル化機能
- 1200V/12000A動的テスト機能、ハードやソフトドッキング
システムメインフレームには、アナログ、デジタルPMICリソースに向けた26つの共通スロットを備えています。超高出力DCおよび動的リソースはテスト・ヘッドに配置され、高速波形キャプチャ機能により最適かつ精密なテストや測定を可能にします。
すべてのAccoTESTのテストシステムには、デバッグツール、波形発生、分析機能付きのデータベース生成ツールをフルサポートした、総合的でライセンスなしのUIインターフェースが含まれています。
